膜厚仪是一种用于精确测量材料表面涂层、薄膜或镀层厚度的仪器，广泛应用于电子、光学镀膜、半导体、显示面板及表面处理等工业领域的质量控制和生产检测中。

1、测量厚度范围：15 nm~70 μm

2、波长范围：380-1050 nm

3、准确度：1 nm或0.4%。